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反射譜成像技術(shù)

產(chǎn)地/品牌：SEMLAB
型      號：
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最后更新：2024-12-18
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上海波銘科學(xué)儀器有限公司

立即詢價(jià)

光譜型橢偏儀

產(chǎn)地/品牌：SEMLAB
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最后更新：2024-12-18
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上海波銘科學(xué)儀器有限公司

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少子壽命/ μ LBIC變溫測試系統(tǒng)

產(chǎn)地/品牌：SEMLAB
型      號： WT-2000MCT/μ LBIC
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最后更新：2024-12-18
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上海波銘科學(xué)儀器有限公司

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WT-2000半導(dǎo)體多功能測試

產(chǎn)地/品牌：SEMLAB
型      號： WT-2000
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上海波銘科學(xué)儀器有限公司

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WT-1200A 單點(diǎn)式少子壽命測試系統(tǒng)

產(chǎn)地/品牌：SEMLAB
型      號： WT-1200A
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上海波銘科學(xué)儀器有限公司

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高速相位差測量裝置 RE-200

產(chǎn)地/品牌：日本/大塚
型      號： RE-200
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上海波銘科學(xué)儀器有限公司

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高靈敏度近紅外量子效率測量系統(tǒng)

產(chǎn)地/品牌：日本/大塚
型      號： QE-5000 New
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上海波銘科學(xué)儀器有限公司

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高感度分光輻射亮度計(jì) HS-1000

產(chǎn)地/品牌：日本/大塚
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上海波銘科學(xué)儀器有限公司

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量子效率測量系統(tǒng) QE-2100

產(chǎn)地/品牌：日本/大塚
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上海波銘科學(xué)儀器有限公司

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線掃描膜厚儀【離線型】

產(chǎn)地/品牌：日本/大塚
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上海波銘科學(xué)儀器有限公司

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紫外分光配光測量系統(tǒng)

產(chǎn)地/品牌：日本/大塚
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紫外分光輻射照度測量系統(tǒng) New

產(chǎn)地/品牌：日本/大塚
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上海波銘科學(xué)儀器有限公司

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紫外分光全光譜光通量測量系統(tǒng)

產(chǎn)地/品牌：日本/大塚
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液晶層間隙量測設(shè)備 RETS series

產(chǎn)地/品牌：日本/大塚
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上海波銘科學(xué)儀器有限公司

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橢偏儀 FE-5000/5000S

產(chǎn)地/品牌：日本/大塚
型      號： FE-5000/5000S
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上海波銘科學(xué)儀器有限公司

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總光譜光通量測量系統(tǒng) HM/FM series

產(chǎn)地/品牌：日本/大塚
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上海波銘科學(xué)儀器有限公司

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ZETA電位 · 粒徑測試系統(tǒng)·ELSZneoSE

產(chǎn)地/品牌：日本/大塚
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上海波銘科學(xué)儀器有限公司

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Load Port對應(yīng)膜厚測量系統(tǒng) GS-300

產(chǎn)地/品牌：日本/大塚
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高速LED光學(xué)特性儀 LE series

產(chǎn)地/品牌：日本/大塚
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膜厚量測儀 FE-300

產(chǎn)地/品牌：日本/大塚
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