X熒光光譜儀分析模式及優(yōu)點

X熒光光譜儀可以應(yīng)用于水泥、鋼鐵、建材、石化、有色、硅酸鹽、煤炭、高嶺土、耐火材料、科研、環(huán)保等行業(yè)，是一種中型、經(jīng)濟(jì)、高性能的光譜儀。采用固定通道，減少測量時間；固定通道尤其適用于熒光產(chǎn)額較低的輕元素和微量元素的測定，以提高分析精度和靈敏度。X熒光光譜儀采用操作方便，用戶習(xí)慣的智能化軟件，提供全自動分析操作，實現(xiàn)快速定性、定量分析和半定量分析 。

 

1、點分析

將電子探針固定在試樣感興趣的點上，進(jìn)行定性或定量分析。該方法用于顯微結(jié)構(gòu)的成份分析，例如，對材料晶界、夾雜、析出相、沉淀物、奇異相及非化學(xué)計量材料的組成等分析。

 

2、線分析

電子束沿一條分析線進(jìn)行掃描(或試樣掃描) 時，能獲得元素含量變化的線分布曲線。如果和試樣形貌像(二次電子像或背散射電子像)對照分析,能直觀地獲得元素在不同相或區(qū)域內(nèi)的分布。沿感興趣的線逐點測量成分，也可以劃出該線的成分變化曲線。

 

3、面分析

將電子束在試樣表面掃描時，元素在試樣表面的分布能在CRT上以亮度分布顯示出來（定性分析)，亮度越亮，說明元素含量越高。研究材料中雜質(zhì)、相的分布和元素偏析常用此方法。面分布常常與形貌像對照分析。

 

點、線、面分析方法用途不同，檢測靈敏度也不同，定點分析靈敏度最高，面掃描分析靈敏度最低。

 

1、分析速度高，測定用時與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。

 

2、X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。

 

3、非破壞分析：在測定中不會引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測量，結(jié)果重現(xiàn)性好。

 

4、X熒光光譜儀分析是一種物理分析方法，所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。

 

5、X熒光光譜儀的分析精密度高。

 

6、制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。

 

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