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梅特勒電子天平的兩種校準方式介紹

瀏覽次數(shù):2682 發(fā)布日期:2015-6-11  來源:上海巴玖實業(yè)有限公司

電子天平作為實驗室常用基礎儀器,其作用主要是稱量物體質量,想要實驗結果更加準確可靠,實驗中樣品的量必須準確。上海巴玖是梅特勒電子天平的專業(yè)供應商,有著豐富的技術和銷售經(jīng)驗。那么為了保證實驗結果的準確性,必須保證梅特勒電子天平測量的準確度,在首次使用前或測量環(huán)境改變后都要進行校準操作。

梅特勒電子天平有內(nèi)校和外校兩種校準方式。

1、內(nèi)校:校準時只需長按CAL鍵就可以完成校準過程。

2、外校:外校型梅特勒天平對砝碼要求較高,砝碼有灰塵、磨損時都會對校準結果產(chǎn)生影響。校準時先按CAL鍵,直到顯示屏上顯示CAL-,再把標準砝碼放入天平秤盤上,完成校準過程。例如,顯示屏出現(xiàn)CAL-100時,把 100g標準砝碼放入稱盤,隨后顯示屏出現(xiàn)“----”等待狀態(tài),當顯示屏出現(xiàn)100.000g時,取走標準砝碼,此時顯示屏應顯示0.000g,若讀數(shù) 不為零,則清零后再次進行校準操作以完成校準過程。

綜上所述,如果您需要購買梅特勒電子天平,請根據(jù)具體實際情況,有什么具體問題也可聯(lián)系我們上海巴玖的技術人員。

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