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飛納電鏡在觀察磁性材料的應(yīng)用

瀏覽次數(shù):963 發(fā)布日期:2020-3-16  來源:本站 僅供參考,謝絕轉(zhuǎn)載,否則責(zé)任自負(fù)

常常有用戶詢問小編:飛納電鏡能否測試磁性材料?有那些注意事項(xiàng)?今天,我們將一一解答。

 

為什么有的用戶會有這樣的顧慮和擔(dān)憂?

 

掃描電子顯微鏡原理上是利用聚焦電子束在測試樣品上表面掃描,激發(fā)出各種物理信息。電子束需要利用電磁透鏡進(jìn)行細(xì)化和聚焦,若樣品本身具有明顯磁性會干擾電磁透鏡的正常工作,導(dǎo)致無法使樣品拍攝清楚;做能譜分析時,容易造成打偏等現(xiàn)象。同時,如果樣品沒有粘貼牢固,可能導(dǎo)致樣品被吸附在極靴上,導(dǎo)致電鏡故障。因此,有些用戶對飛納電鏡能否測試磁性樣品表示擔(dān)憂。

 

接下來我們聊一聊電鏡電磁透鏡的設(shè)計(jì)。距離樣品最近的一個電磁透鏡為物鏡,最容易受到樣品的影響,也最容易影響到樣品,因此物鏡的設(shè)計(jì)對磁性樣品觀察十分重要。

 

目前,常見物鏡設(shè)計(jì)有三種:外透鏡模式、內(nèi)透鏡模式、半內(nèi)透鏡模式。飛納電鏡的物鏡采用外透鏡模式,將物鏡產(chǎn)生的磁場盡可能與樣品隔離,將磁性樣品對電鏡的影響降到最低。如下圖所示,極靴將電磁透鏡產(chǎn)生的磁場包住,不讓其泄露到樣品區(qū)。正如等效磁場所示,樣品在等效磁場外。

 

外透鏡模式示意圖

 

內(nèi)透鏡模式、半內(nèi)透鏡模式的設(shè)計(jì)都會使樣品暴露在等效磁場內(nèi),因此需要額外的消磁設(shè)備對樣品進(jìn)行消磁處理,或增大樣品的工作距離,使樣品盡可能遠(yuǎn)離等效磁場,但這樣操作會使樣品測試清晰度下降。

 

雖然飛納電鏡采用了外透鏡模式,但測試磁性樣品時還是需要小心謹(jǐn)慎:

 

首先,樣品必須粘貼牢固,并利用壓縮氣體吹掃,保證無松散顆粒脫落掉入電鏡真空腔內(nèi),或污染電鏡。

 

其次,測試磁性樣品時,會產(chǎn)生像散,需要操作人員消像散操作。這是因?yàn)楫?dāng)電子透過物鏡,將要抵達(dá)樣品表面時會受到樣品磁場的影響,導(dǎo)致電子束發(fā)生變形,引起像散現(xiàn)象。

 

最后,對于部分磁性較強(qiáng)的永磁材料,可以采用熱退磁的方法,提高其成像效果。將磁體加熱到居里溫度以上 100 攝氏度,并保溫超過半小時,可以有效使其磁性消除。

 

下面讓我們欣賞一些磁性材料的電鏡圖片

 

釹鐵硼速凝片

 

燒結(jié)釹鐵硼磁體

 

釤鈷磁體金相

 

釤鈷磁體斷口

來源:復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司
聯(lián)系電話:400-857-8882
E-mail:cici.yang@phenom-china.com

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