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泰思肯CLARA新一代超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
產(chǎn)品詳情
CLARA新一代超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
全新設(shè)計(jì)的CLARA超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡可以提供無(wú)與倫比的圖像質(zhì)量,具有強(qiáng)大的擴(kuò)展分析能力,能夠滿足現(xiàn)今工業(yè)研發(fā)和科研的所有需求,不僅適用于納米分析應(yīng)用,也給操作者帶來(lái)舒適的使用體驗(yàn)。
產(chǎn)品特點(diǎn)
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
全新設(shè)計(jì)的CLARA超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡可以提供無(wú)與倫比的圖像質(zhì)量,具有強(qiáng)大的擴(kuò)展分析能力,能夠滿足現(xiàn)今工業(yè)研發(fā)和科研的所有需求,不僅適用于納米分析應(yīng)用,也給操作者帶來(lái)舒適的使用體驗(yàn)。
產(chǎn)品特點(diǎn)
- 新一代鏡筒內(nèi)電子加速、減速技術(shù),保證了復(fù)雜樣品的低電壓高分辨觀測(cè)能力。
- 首次配置的靜電-電磁復(fù)合物鏡,物鏡無(wú)磁場(chǎng)外泄,實(shí)現(xiàn)磁性樣品高分辨成像及分析。
- 配置4個(gè)新一代探測(cè)器,可實(shí)現(xiàn)9種圖像觀測(cè),對(duì)樣品信息的采集更加全面。
- 配置大型樣品室,有超過(guò)20個(gè)擴(kuò)展接口,為原位觀測(cè)、分析創(chuàng)造了良好的工作環(huán)境。
- 可以配置TESCAN自有或第三方的多種擴(kuò)展分析附件,如EDS、EBSD、CL、Raman聯(lián)用。
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