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LJ-18M磁控離子濺射儀鍍膜儀

產(chǎn)地/品牌:北京/裕隆時(shí)代
型      號: LJ-18M
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最后更新:2025-02-05
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北京裕隆時(shí)代科技有限公司

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裕隆時(shí)代LJ-16小型離子濺射儀/噴金儀

產(chǎn)地/品牌:北京/裕隆時(shí)代
型      號: LJ-16
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最后更新:2025-02-05
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ArFab 100 氬離子拋光儀/CP離子研磨拋光儀

產(chǎn)地/品牌:北京/裕隆時(shí)代
型      號: ArFab100
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最后更新:2025-02-05
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北京裕隆時(shí)代科技有限公司

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裕隆時(shí)代MCP100精研一體機(jī)/精密切拋一體機(jī)

產(chǎn)地/品牌:北京/裕隆時(shí)代
型      號: MCP100
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最后更新:2025-02-05
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MAX-8000微區(qū)X射線熒光光譜儀(μXRF)

產(chǎn)地/品牌:中國/裕隆時(shí)代
型      號: MAX-8000
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MTP-1A電解雙噴減薄儀/電解雙噴儀

產(chǎn)地/品牌:中國
型      號: MTP-1A
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北京裕隆時(shí)代科技有限公司

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裕隆時(shí)代CSP-20T精研一體機(jī)

產(chǎn)地/品牌:北京
型      號: CSP-20T
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EA電性失效分析系統(tǒng)(EBIC及EBAC)

產(chǎn)地/品牌:德國/PE
型      號: EA
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EBAC電子束吸收電流電性失效分析系統(tǒng)

產(chǎn)地/品牌:德國/PE
型      號: EBAC
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EBIC電子束感生電流電性失效分析系統(tǒng)

產(chǎn)地/品牌:德國/PE
型      號: EBIC
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EFA電性失效分析系統(tǒng)(EBIC及EBAC)

產(chǎn)地/品牌:德國/PE
型      號: EFA
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掃描透射電子束電性失效分析系統(tǒng)STEBIC

產(chǎn)地/品牌:德國/PE
型      號: STEBIC
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3D掃描電鏡標(biāo)準(zhǔn)樣品:SEM, CLSM, SPM/AFM

產(chǎn)地/品牌:德國/PE
型      號: 3D Calibration
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FusionScope綜合原位分析測試系統(tǒng)

產(chǎn)地/品牌:美國
型      號: FusionScope(SEM+AFM)
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背散射電子探測器BSE

產(chǎn)地/品牌:德國/PE
型      號: BSE
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TEM/SEM原位力學(xué)系統(tǒng)/原位電學(xué)系統(tǒng)樣品桿

產(chǎn)地/品牌:北京
型      號: E
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TEM/SEM原位加熱與電學(xué)芯片加熱桿系統(tǒng)

產(chǎn)地/品牌:北京/PF
型      號: PFRD
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德國MIKROTOM-M硬組織切片機(jī)精密切片機(jī)

產(chǎn)地/品牌:德國/MICROS
型      號: MICROTOM-M
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金屬電解拋光器/電解研磨器/研磨拋光儀

產(chǎn)地/品牌:中國
型      號: MTP-1DM
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掃描電鏡放大倍率標(biāo)樣/電鏡標(biāo)樣

產(chǎn)地/品牌:中國/裕隆時(shí)代
型      號: S1000
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