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薄膜介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀

LJD-B介電常數(shù)測(cè)試儀是我公司新一代通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器。介電常數(shù)測(cè)試儀以單片計(jì)算機(jī)...

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最后更新：2019-11-04

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體積表面電阻率測(cè)試儀絕緣材料體積電阻率測(cè)試儀

本儀器既可測(cè)量高電阻，又可測(cè)微電流。采用了美國(guó) Intel 公司的大規(guī)模集成電路,使儀器體積小、重量...

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